• head_banner_015

Atomic Force Mikroskop

Atomic Force Mikroskop

  • atomic force afm microscope

    atomkraft afm mikroskop

    Merke: NANBEI

    Modell: AFM

    Atomic Force Microscope (AFM), et analytisk instrument som kan brukes til å studere overflatestrukturen til faste materialer, inkludert isolatorer.Den studerer overflatestrukturen og egenskapene til et stoff ved å oppdage den ekstremt svake interatomiske interaksjonen mellom overflaten av prøven som skal testes og et mikrokraftfølsomt element.