atomkraft afm mikroskop
Atomic Force Microscope (AFM), et analytisk instrument som kan brukes til å studere overflatestrukturen til faste materialer, inkludert isolatorer.Den studerer overflatestrukturen og egenskapene til et stoff ved å oppdage den ekstremt svake interatomiske interaksjonen mellom overflaten av prøven som skal testes og et mikrokraftfølsomt element.Vil være et par av svak kraft ekstremt følsomme mikro-cantilever enden fast, den andre enden av den lille tuppen nær prøven, så vil den samhandle med den, vil kraften gjøre mikro-cantilever deformasjon eller bevegelse tilstand endringer.Når du skanner prøven, kan sensoren brukes til å oppdage disse endringene, vi kan få fordelingen av kraftinformasjon, for å oppnå overflatemorfologien til informasjon om nanooppløsning og informasjon om overflateruhet.
★ Integrert skanningssonde og prøvehjort forbedret anti-interferensevnen.
★ Presisjonslaser og sondeposisjoneringsenhet gjør det enkelt og praktisk å bytte sonde og justere stedet.
★ Ved å bruke prøvesonden som nærmer seg, kan nålen vinkelrett på prøveskanningen.
★ Automatisk pulsmotordrift, kontrollprøveprobe nærmer seg vertikalt, for å oppnå presis posisjonering av skanneområdet.
★ Sample skanning område av interesse kan fritt flyttes ved å bruke utformingen av høy presisjon prøve mobil enhet.
★ CCD-observasjonssystem med optisk posisjonering oppnår sanntidsobservasjon og posisjonering av sondeprøveskanningsområdet.
★ Utformingen av elektronisk kontrollsystem for modularisering forenklet vedlikehold og kontinuerlig forbedring av kretsen.
★ Integrering av flere skanning modus kontrollkrets, samarbeide med programvare system.
★ Fjæroppheng som enkelt og praktisk forbedret anti-interferens evne.
| Arbeidsmodus | FM-tapping, valgfri kontakt, friksjon, fase, magnetisk eller elektrostatisk |
| Størrelse | Φ≤90 mm,H≤20 mm |
| Skanneområde | 20 mm min XY-retning,2 mm i Z-retning. |
| Skanneoppløsning | 0,2nm i XY-retning,0,05nm i Z-retning |
| Bevegelsesområde for prøve | ±6,5 mm |
| Pulsbredden til motoren nærmer seg | 10±2ms |
| Bildeprøvepunkt | 256×256,512×512 |
| Optisk forstørrelse | 4X |
| Optisk oppløsning | 2,5 mm |
| Skannehastighet | 0,6 Hz~4,34 Hz |
| Skannevinkel | 0°~360° |
| Skannekontroll | 18-bits D/A i XY-retning,16-bits D/A i Z-retning |
| Datasampling | 14-bitA/D,dobbel16-bits A/D flerkanals synkron sampling |
| Tilbakemelding | DSP digital tilbakemelding |
| Samplingsfrekvens for tilbakemeldinger | 64,0KHz |
| Datamaskingrensesnitt | USB 2.0 |
| Driftsmiljø | Windows98/2000/XP/7/8 |